مكتبة جرير

Atomic Force Microscopy for Energy Research

كتاب مطبوع
367ر.س.
شامل ضريبة القيمة المضافة
وحدة البيع: EACH
22ر.س.شهرياً/24 شهر
المؤلف:Shen, Cai
تاريخ النشر: 2024
تصنيف الكتاب:التربية والتعليم,الكتب الانجليزية,
عدد الصفحات:458 Pages
الصيغة:غلاف ورقي
هذا الكتاب يُطبع عند الطلب وغير قابل للاسترجاع بعد الشراء

الصيغ المتوفرة:

كتاب مطبوع

سيتم إرسال الطلب الى عنوانك

367ر.س.
شامل الضريبة

حدد خيار التوصيل الذي تفضله

أو

عن المنتج

Atomic force microscopy (AFM) can be used to analyze and measure the physical properties of all kinds of materials at nanoscale in the atmosphere, liquid phase, and ultra-high vacuum environment. It has become an important tool for nanoscience research. In this book, the basic principles of functional AFM techniques and their applications in energy materials--such as lithium-ion batteries, solar cells, and other energy-related materials--are addressed.

FEATURES

  • First book to focus on application of AFM for energy research
  • Details the use of advanced AFM and addresses many types of functional AFM tools
  • Enables readers to operate an AFM instrument successfully and to understand the data obtained
  • Covers new achievements in AFM instruments, including electrochemical strain microscopy, and how AFM is being combined with other new methods such as infrared (IR) spectroscopy

With its substantial content and logical structure, Atomic Force Microscopy for Energy Research is a valuable reference for researchers in materials science, chemistry, and physics who are working with AFM or planning to use it in their own fields of research, especially energy research.

عرض أكثر

المواصفات

رقم الصنف9781032004112
رقم المصنع9781032004112
تاريخ النشر2024
عرض أكثر

أبلغ عن مشكلة مع هذا المنتج

مراجعات العملاء