الرجاء كتابة 2 حروف على الأقل
الرجاء كتابة 2 حروف على الأقل
تصفح الأقسام
شنط وملحقات السفر
الجوالات و الالكترونيات
أجهزة الكمبيوتر وملحقاتها
التلفزيونات الذكية وملحقاتها
الأدوات المدرسية
ألعاب و وسائل تعليم الأطفال
الأدوات المكتبية
مستلزمات الرسم والأشغال اليدوية
الكتب العربية
الكتب الانجليزية
كتب صوتية والكترونية
ألعاب الفيديو
البطاقات الالكترونية
الالات الموسيقية
Item 1 of 1
Item 1 of 1
Springer
Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization : Atomic-Scale Structure Determination
1,208ر.س.
شامل ضريبة القيمة المضافة
73ر.س.شهرياً/24 شهر
هذا الكتاب يُطبع عند الطلب وغير قابل للاسترجاع بعد الشراء
الصيغ المتوفرة:
كتاب مطبوع
سيتم إرسال الطلب الى عنوانك
1,208ر.س.
شامل الضريبة
استبدال أسهل
تسوّق آمن
أصلي ومضمون
توصيل سريع
أو
عن المنتج
A new materials characterization methods, anomalous X-ray scattering, is presented in this book.
أبلغ عن مشكلة مع هذا المنتج
