مكتبة جرير

Advances in X-Ray Analysis: Volume 28

كتاب مطبوع
346ر.س.
شامل ضريبة القيمة المضافة
وحدة البيع: EACH
21ر.س.شهرياً/24 شهر
المؤلف:S. Barrett, Charles
تاريخ النشر: 2011
تصنيف الكتاب:التربية والتعليم,الكتب الانجليزية
عدد الصفحات:412 Pages
الصيغة:غلاف ورقي
هذا الكتاب يُطبع عند الطلب وغير قابل للاسترجاع بعد الشراء

الصيغ المتوفرة:

كتاب مطبوع

سيتم إرسال الطلب الى عنوانك

346ر.س.
شامل الضريبة

حدد خيار التوصيل الذي تفضله

أو

عن المنتج

The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. 1984. on the campus of the University of Denver. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer- ence. the plenary sessions dealt with topics of X-ray fluorescence. Prof. H. Aiginger presented a plenary lect re on TOTAL REFLECTANCE X-RAY SPECTROMETRY which admirably described this relatively new technique. J. C. Russ discussed XRF AND OTHER SURFACE ANALYTICAL TECHNIQUES which gave an excellent overview of the role XRF plays in a modern analytical laboratory. J. E. Taggart. Jr. described THE ROLE OF XRF IN A MODERN GEOCHEMICAL LABORATORY and presented many case histories of the configura- tion of analytical equipment in several geochemical laboratories. The plenary lectures demonstrated both the dynamic nature of research in X-ray fluorescence. and the important role X-ray spectrom- etry plays in the arsenal of analytical methods found in modern labora- tories. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con- sideration of the geometry of the X-ray optics. Potentially. new sample types may be considered as X-ray fluorescence specimens using this technique.
عرض أكثر

المواصفات

رقم الصنف9781461294993
رقم المصنع9781461294993
تاريخ النشر2011
عرض أكثر

أبلغ عن مشكلة مع هذا المنتج

مراجعات العملاء